室外電子設(shè)備高低溫試驗(yàn)箱是用來(lái)做工業(yè)產(chǎn)品恒定溫度試驗(yàn)用的，所以也可以叫小型高低溫試驗(yàn)箱。

有型號(hào)：LQ-GD-80★；LQ-GD-150★；LQ-GD-225★；LQ-GD-408★；LQ-GD-800★；LQ-GD-000★。

各型號(hào)對(duì)應(yīng)的內(nèi)箱尺寸(高×寬×深★）：50×40×40 ★;60×50×50 ★;75×50×60★; 85×60×80 ★;100×100×80★; 100×100×100★。

高低溫濕熱測(cè)試箱｜高低溫濕熱試驗(yàn)機(jī)的主要性能：

溫度測(cè)試范圍可選擇： A:0℃～150℃;B:-20℃～150℃;C：-40℃～150℃;D：-70℃～150℃。

波動(dòng)/均勻度 ≤±0.5 ℃/±2℃，±2.5 %RH/+2～3%RH。

降溫時(shí)間 20℃～-20℃約35min 20℃～-40℃約55min 20℃～-70℃約80min。

升溫時(shí)間 -20℃～100℃約35min 20℃～100℃約35min 20℃～100℃約35min。

室外電子設(shè)備高低溫試驗(yàn)箱滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)。

GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)。

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。