工作原理與核心思想

PCT試驗(yàn)基于一個(gè)簡(jiǎn)單的物理原理：在壓力高于大氣壓的情況下，水的沸點(diǎn)會(huì)超過100℃。試驗(yàn)箱通過加壓，可以產(chǎn)生高達(dá)120℃、130℃甚至更高溫度的飽和水蒸氣環(huán)境。這種高溫高濕高壓力的環(huán)境會(huì)極大地加速水分對(duì)產(chǎn)品的滲透和破壞。

其核心思想是 “加速"。在條件下進(jìn)行測(cè)試，可以在幾天甚至幾小時(shí)內(nèi)，模擬出產(chǎn)品在自然環(huán)境下需要數(shù)年才能經(jīng)歷的濕氣侵蝕效果。這大大縮短了產(chǎn)品研發(fā)和改進(jìn)的周期。

主要用途和應(yīng)用領(lǐng)域

PCT測(cè)試廣泛應(yīng)用于對(duì)濕氣敏感或需要在惡劣潮濕環(huán)境下工作的產(chǎn)品和材料，主要集中在以下領(lǐng)域：

1. 半導(dǎo)體與集成電路

• 用途：測(cè)試芯片封裝（IC Packaging）的抗?jié)駳饽芰Α駳鈺?huì)通過封裝材料滲透到芯片內(nèi)部，在高溫下汽化產(chǎn)生壓力，導(dǎo)致封裝開裂、分層（Delamination）或內(nèi)部腐蝕，即“爆米花效應(yīng)"。

• 測(cè)試對(duì)象：CPU、GPU、內(nèi)存、各種IC芯片等。

2. 印刷電路板

• 用途：評(píng)估PCB板及其材料（如基材、阻焊油墨）在吸濕后的性能，以及焊盤、鍍孔等處的耐腐蝕性。

• 測(cè)試對(duì)象：PCBAs、軟板（FPC）、HDI板等。

3. 電子元器件

• 用途：檢驗(yàn)元器件如電阻、電容、電感、晶體振蕩器、連接器等在高溫高濕環(huán)境下的可靠性，以及引腳的電化學(xué)遷移和腐蝕情況。

• 測(cè)試對(duì)象：各類貼片和插裝元器件。

4. 高分子與封裝材料

• 用途：評(píng)估塑料、樹脂、膠粘劑、密封膠、涂層等材料的吸濕性、抗水解能力、粘接強(qiáng)度變化以及物理性質(zhì)（如顏色、尺寸、機(jī)械強(qiáng)度）的退化。

• 測(cè)試對(duì)象：LED封裝膠、手機(jī)外殼涂層、光學(xué)鏡片粘合膠等。

5. 汽車電子

• 用途：汽車電子部件（如ECU、傳感器、車燈）經(jīng)常處于高溫高濕環(huán)境，PCT測(cè)試是驗(yàn)證其長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵手段。

6. 航空航天與國(guó)防電子

• 用途：這些領(lǐng)域?qū)煽啃砸蟾撸琍CT測(cè)試用于篩選和驗(yàn)證電子設(shè)備在嚴(yán)苛環(huán)境下的生存能力。

測(cè)試目的與評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)

通過PCT測(cè)試，工程師主要希望達(dá)到以下幾個(gè)目的：

• 篩選設(shè)計(jì)缺陷：快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在材料選擇、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)或制造工藝上的弱點(diǎn)。

• 評(píng)估壽命：通過加速老化數(shù)據(jù)，推算出產(chǎn)品在正常使用環(huán)境下的預(yù)期壽命。

• 質(zhì)量對(duì)比：對(duì)比不同供應(yīng)商的元器件或不同批次產(chǎn)品的耐候性優(yōu)劣。

• 工藝驗(yàn)證：驗(yàn)證新的封裝工藝、涂層工藝或密封工藝是否可靠。

常見的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試結(jié)束后，會(huì)對(duì)樣品進(jìn)行一系列檢查，包括：

• 外觀檢查：有無(wú)銹蝕、起泡、開裂、分層、變色。

• 電氣性能測(cè)試：功能是否正常，參數(shù)是否漂移。

• 物理性能測(cè)試：粘接力、機(jī)械強(qiáng)度等。

• 顯微分析：切片后在顯微鏡下觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否損壞。

PCT高速老化試驗(yàn)箱是現(xiàn)代制造業(yè)，尤其是電子行業(yè)的可靠性保障工具。它通過創(chuàng)造一個(gè) “地獄式"的濕熱環(huán)境，在短時(shí)間內(nèi)暴露出產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題，從而幫助企業(yè)在產(chǎn)品上市前進(jìn)行改進(jìn)，確保其具有足夠的耐用性和長(zhǎng)壽命，最終提升品牌信譽(yù)和客戶滿意度。